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 Ace
Tech Circuit > 제품소개 > Probe
Card |
| Wafer 상에 각 Chip을 검사하기 위해 PCB 위에 Epoxy로
고정시킨 Probe를, Test 하고자 하는 Chip의 Pad에 접속시킨 후, Test System의
전기적 신호를 Chip상에 전해주는 Tool. ATE(Automatic Test Equipment)와
Wafer 사이에 전기적 신호를 전달해주는 핵심 역할을 담당 |
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사양구분 |
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단위
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mm |
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inch
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층 수 |
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14~52 |
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14~52 |
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원자재 |
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FR-4
FR-4 High Tg |
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FR-4
FR-4 High Tg |
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두께
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4.8~6.5 |
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0.19~0.26 |
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패턴 폭
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0.075 |
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0.003 |
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패턴 간격
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0.1 |
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0.004 |
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최소 홀 사이즈
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ø 0.30 |
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ø 0.012 |
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표면처리
(전해 Hard, 무전해 금도금) |
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1.3μm |
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50μ” |
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기타
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HPL |
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